測試殘余奧氏體的靶材選擇

1. X射線管靶材及功率條件

功率條件取決于作為目標(biāo)材料和焦點(diǎn)類型的射線管。盡管Cu靶廣泛用于衍射（特別是多用途衍射儀），但不建議使用Cu靶進(jìn)行殘余奧氏體分析，因為鐵基材料的熒光很強(qiáng)（可以使用Cu靶，但需要從衍射光束中去除熒光）。

因此，可以使用Mo、Cr或Co來避免熒光，然后實現(xiàn)較低的背景。ASTM指出，推薦選擇是Cr或Mo，這取決于是否需要獲得更好的分辨率（Cr）或是否需要收集盡可能多的峰（Mo）以盡量減少樣品問題（樣品的不均勻性或織構(gòu)）。

此外，Mo靶的輻射能量更高，也能使吸收效應(yīng)zui小化，從而獲得更高的計數(shù)率。

因此，Mo靶是殘余奧氏體測試的優(yōu)選，我們選擇它來裝配到ARE X殘余奧氏體分析儀。

至于推薦功率，它取決于輻射能量，因此Mo>Co>Cr。

2.   Mo靶與Cr靶實際測試對比

對于殘余奧氏體的XRD測量，可以使用任何能夠記錄至少2個α鐵峰和2個γ鐵峰的輻射靶才行，它可以是Cr、Mo，甚至Co。

圖1 ARE X測試結(jié)果

如下圖所示，使用Mo靶相較Cr靶而言還有其他優(yōu)勢，比如使用Cr靶的測試誤差要大于Mo靶。

圖2 測試結(jié)果的誤差對比

使用Cr靶的優(yōu)勢是它可能具有更好的峰分辨率，因為峰彼此相距很遠(yuǎn)。但是，如果使用當(dāng)前的快速檢測器，這并無太大實際意義。所以對于ARE X殘余奧氏體分析儀仍然推薦使用Mo靶。

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。ARE X 為殘余奧氏體分析儀，無需依靠搭載模塊在常規(guī)XRD上實現(xiàn)殘余奧氏體測試，具有操作簡便、檢測速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點(diǎn)，對操作人員要求不高，做到輕松上手。